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【摘要】：介绍了用表面光电压(SPV)法测试少数载流子的扩散长度、少子寿命和体Fe含量的基本原理及其计算方法,分析了三种常见外延结构中少子扩散长度的测试方法及其影响因素,得出了用于表面光电压测试的外延片及衬底片应满足的条件。提出了在外延工艺前后,用SPV法测试同一p型控片中少子的...
2表面光电压法测量原理和仪器简介表面光电压是一种非破坏性可全片扫描测量硅抛光片少数载流子扩散长度及表面铁杂质含量的先进测量方法[1～6].该方法不但是研究硅材料性能的有力手段,同时也进入了集成电路和硅抛光片生产系统,已成为必不可少的检测
HebeiInstituteArchitecturalScienceTechnologyVol121No12un12004文章编号:10076743(2004)0204半导体光电特性的表面光电压谱表征王华英河北工程学院数理系河北邯郸056038河北保定071002)摘要:根据半导体能带结构,利用静电平衡条件及...
表面光电压光谱(SPS)是探测固体表面电子跃迁和转移等表面电子行为的一种有效手段,能够检测到由入射光诱导而引起的固体表面电荷的变化。2.ThecrystalstructuresofthecomplexesweredeterminedbyX-raysinglecrystaldiffraction,andthecomplexeswerecharacterizedbyUV-Visandsurfacephotovoltagespectrum(SPS).
稳态表面光电压（SPV）测试结果发现加了偏压后，光电压随着波长的增加从正变为负再回到0，这在光催化中该如何解释催化...
光电催化材料表界面光生电荷成像研究.催化.作者：X-MOL2018-11-22.近日，中国科学院大连化学物理研究所催化基础国家重点实验室李灿院士、范峰滔研究员等与德国亥姆霍兹柏林能源与材料中心（Helmholtz-ZentrumBerlinfürMaterialienundEnergieGmbH）硅光伏研究所Thomas...
4)表面光电压、光电流、相位谱分析的光谱波长范围：200-1600nm，可以全光谱连续扫描，光谱分辨率0.1nm，波长准确度±0.1nm;5)可以实现任意定波长下，不同强度光照下的表面光电压、光电流、相位谱分析，实现光谱分析的多元化;
空间分辨表面光电压谱(SRSPS)的应用为表面电荷动力学提供了新的见解。例如，SRSPS在研究由{010}和{011}晶面包覆的BiVO4晶体显示，{011}有比{010}面更强的表面光电压(SPV)信号强度大，表明SCR的表面带弯曲与{011}面中的SCR的表面带弯与{010}面
光电催化水氧化中光生载流子的“取经之路”.能源危机愈演愈烈，传统能源正在被高效、清洁的氢能逐步替代。.光电催化水分解是一种非常有前景的产氢方法，但由于阳极的析氧反应动力学势垒高，严重抑制了阴极的析氢半反应，降低了水解的整体效率。.钒...
【摘要】：表面光电压法可以非破坏性检测抛光片、外延片的扩散长度(从而可以推算出少子寿命),能测量扩散长度在晶片表面各点的分布,而且可以对太阳电池基体扩散长度进行随工艺检测及成品电池检测。测试结果与表面复合速度无关,精度可达10％±1μm。大量测试结果表明,在0.93μm—1.01μm的波长...
稳态表面光电压（SPV）测试结果发现加了偏压后，光电压随着波长的增加从正变为负再回到0，这在光催化中...
犑狌狀犲2009表面光电压技术在河北普兴电子科技股份有限公司,石家庄050200西安电子科技大学微电子学院,西安710071SPV)法测试少数载流子的扩散长度、少子寿...
>论文道贺祈福(88)>博后之家(75)>基金申请(73)>有机交流(48)>考研(43)>海外博后(40)>找工作(40)小木虫论坛-学术科研互动平台»材料区»微米和纳米»表征»关于表面...
应用表面光电压技术,通过光电效应,以光电流的形式检测溶液与敏感薄膜之间的界面电位,从而间接测定溶液的pH值。该文对三种不同pH值的溶液进行了测量,得到了约50mV/pH的灵敏度...
Inset:SchematicsetupofKelvinProbedbasedSPVmeasurement.70年代，Gatos等人系统地进行了亚带表面光伏的自建场对表面光伏和荧光的调控作用dcSPVspectrumofZnOarraywithillum...
因此,物质的光催化活性取决于SPV参数,这意味着SPV响应可用来估计物质的光催化活性。本文基于分析表面光电压和光催化原理,提出并发展了一种用于估计物质光...
铁杂质是硅片制造过程中常见的重金属沾污,表面光电压(SPV)法可很好地用于测定P型硅中铁杂质。本文通过SPV法测试不同流程制造的P型抛光硅片中的铁沾污,找到了在P...
西安)2.710071摘要:介绍了用表面光电压()法测试少数载流子的扩散长度、少子寿命和体含量的基SPVFe本原理及其计算方法,分析了三种常见外延结构中少子扩...
摘要:铁杂质是硅片制造过程中常见的重金属沾污,表面光电压(SPV)法可很好地用于测定P型硅中铁杂质。本文通过SPV法测试不同流程制造的P型抛光硅片中的铁沾污,找到...
文章编号:1007-6743(2004)03-00101-04量子阱效应及其光电性质的表面光电压谱表征王华英1,朱海丰2,冯云鹏1(1.河北工程学院理学院,河北邯郸056038;...