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大口径光学平面镜低阶面形检测技术研究文献类型：学位论文作者戚二辉学位类别博士答辩日期2015-05授予单位中国科学院大学导师张新关键词光学检测大口径平面镜低阶面形轮廓检测其他题名StudyonLowOrderAberrations’TestingTechnology...
得到平面镜的面形结果其峰谷值PV为0.391(=0.6328μm)，均方根误差RMS值为0.0181(=0.6328μm)，并给出了平面镜的面形误差情况。最终使用瑞奇-康芒法完成了1.5m平面镜的面形检测工作，从而实现了大口径平面镜的高精度检测。
大口径平面反射镜检测方法研究.超.【摘要】：随着科学技术的发展,大口径光学系统在各个领域得到越来越广泛的应用。.大口径平面反射镜不仅在光学系统检测中占有重要地位,经常作为标准反射镜使用;而且在“大型高精度衍射光栅刻划系统”等系统中也...
选择五棱镜扫描检测技术作为大口径平面镜抛光阶段的低阶面形检测手段,基于矩阵运算的光线矢量追迹方法,建立五棱镜扫描检测系统的数学模型,对各误差源影响系统测量精度的形式及量级进行了评估,完成系统的精度分析。.对于非圆形大口径平面镜,常用的最小...
五棱镜扫描技术检测大口径平面镜的误差分析戚二辉1,2，罗霄2,3，李明1,2，郑立功2,3，张学军2,3(1.中国科学院大学，北京100049；2.中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，吉林长…
大口径平面镜面形检测误差精度分析.朱硕张晓辉.【摘要】：大口径空间光学有效载荷为我国发展空间光学、航空、航天、国防军事等研究领域提供技术支持与保证,随着观测需求的提高,空间光学遥感器正朝着大口径、大视场、高分辨率、多谱段等方向发展...
本论文中提出了一种新的比较简单且易于实现的检测大口径空间光学成像系统的方法。该检测方法通过使用非相干光照明光学系统焦面上的内置目标，使得待测系统自身产生检测所需的大口径平行光，同时利用外部的平面镜将出射光反射回待测系统，从而代替平行光管实现对系统的检测。
【摘要】：地基大口径望远镜在观测的过程中,成像质量会受到镜面失调误差的影响。镜面失调误差会导致望远镜的成像质量下降、观测精度降低,使望远镜无法达到技术指标,无法准确的观测天体和空间碎片。因此,需要采用像差检测技术对望远镜的像差进行检测,并通过像差校正方法来减小镜面失调量...
摘要：介绍了子孔径拼接检测平面波前的基本原理，提出了基于均化误差和最小二乘法的多个子孔径同时拼接的数据处理方法，有效减小了误差传递和积累。用该方法对Zemax的望远镜光学系统进行了子孔径拼接检测，拼接光学系统波前和直接用Zemax得到的全孔径波前对比，其峰谷值(PV)和均方…
大口径平面反射镜静力支承的工程分析作者：袁艳出版年：1997基于条纹反射法的大口径非球面发射镜面形检测技术研究作者：袁婷出版年：2016...
在一些高技术项目中,经常需要检测大口径平面镜。本文就目前大口径平面镜(本文共2页)阅读全文>>权威出处:《科技信息》2009年33期光学技术高精度大口径平面镜瑞奇康芒定量检测方法研究
马冬梅-全国光学测试学术讨论会论文被引量:0发表:2012年大口径光学平面镜面形检测技术研究随着科学技术的飞速发展,大口径光学系统在空间光学,天文光学等领域得到越来...
【摘要】随着科学技术的飞速发展,大口径光学系统在空间光学、天文光学等领域得到越来越广泛的应用。大口径平面镜常作为标准器具用于光学系统的自准检验,因此,对大口径平面镜...
科教前沿年第期大口径平面镜检测方法的研究惑副田秀云侯溪广东海洋大学广东湛江中科院光电技术研究所四川成都【摘要】在一些高技术项目中经常需要检测...
内容提示:五棱镜扫描技术检测大口径平面镜的误差分析戚二辉1,2,罗霄2,3,李明1,2,郑立功2,3,张学军2,3(1.中国科学院大学,北京100049;2.中国科学院...
摘要:提出了用Ritchey_Common法检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法。通过确立基准点将多幅子孔径检测数据统一到全口径归一化坐标系下进行拼接,解...
然而长期以来,大口径平面镜的面形检测一直是光学领域的一个难题,现有的检测方法存在着技术不成熟、检测精度不够、成本高昂、检测周期长等问题,不能满足大口径平面镜面形的检...
第44卷第2期VO1.44NO.2红外与激光工程InrafredandLaserEngineering2015年2月Feb.2015五棱镜扫描技术检测大口径平面镜的误差分析戚二辉1,2,罗...
【摘要】:在一些高技术项目中,经常需要检测大口径平面镜。本文就目前大口径平面镜常用的三种检测方法(子孔径拼接法、阴影星点法、瑞奇-康芒法)分别进行了讨论,指出了三种方法...
为使大口径平面镜检测系统中的五棱镜扫描技术更加完善,通过理论分析和计算模拟,对五棱镜检测系统中的主要误差源,包括五棱镜制造误差、温度梯度的影响、元件位...